天线近场测试系统 

 

NEARFILED TEST

灵活精密的单探头测试系统

系列产品支持从50M到110G的全频段测试,测试速度快,结果稳定,可追溯性强,校准简便,造价适中,是各初创公司的最佳选择

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平面/柱面近场测试系统

天线平面近场测试系统,支持2D3D模式测试和显示

天线平面/柱面复用近场测试系统,支持2D3D模式测试和显示,可根据待测天线的外形尺寸自动计算采样间隔以及采样区域大小,节省时间,独创的多频点多端口并行扫描技术可解决多端口天线的一次性数据输出,极大的改善测试效率。

多波束,多波位,多频点同时测试。

扫描范围最大可达5m*5m,同时保证平面度20u,完全满足毫米波测试需求。

测试频率支持1~110G,扫描架大小可选择1m*1m至6m*6m。

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